热点
新内容
测试仪表校正池州-校准单位
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-20 04:33:50
测试仪表校正池州-校准单位测试仪表校正池州-校准单位
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
互感器过热的情况通常表现为,电流互感器一次侧导电回路 引起的局部发热;整体介质损耗上升引起的温度整体上升;电流互感器套管缺油引起的温度分布异常。互感器过热的情况通常表现为,电流互感器一次侧导电回路 引起的局部发热;整体介质损耗上升引起的温度整体上升;电流互感器套管缺油引起的温度分布异常。电压互感器存在局部缺陷、受潮或老化,使介质损耗增加或局部放电;由铁芯损耗引起,随着电压等级的升高,绝缘的介质损耗严重。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
互感器过热的情况通常表现为,电流互感器一次侧导电回路 引起的局部发热;整体介质损耗上升引起的温度整体上升;电流互感器套管缺油引起的温度分布异常。互感器过热的情况通常表现为,电流互感器一次侧导电回路 引起的局部发热;整体介质损耗上升引起的温度整体上升;电流互感器套管缺油引起的温度分布异常。电压互感器存在局部缺陷、受潮或老化,使介质损耗增加或局部放电;由铁芯损耗引起,随着电压等级的升高,绝缘的介质损耗严重。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
测试仪表校正池州-校准单位
如果采用传统的单机测试方式,就存在各种工况转换的衔接过程,难以进行与测试,这样的衔接过程往往是系统容易产生故障的环节。正因如此,就需要一个软硬件结合的电源自动化测试系统来完成对航天电源系统性能的测试。传统的电源测试系统由于通用性低,价格昂贵且难于操作维护,已经不能满足日益发展的航天电源系统的测试需求,需要有一套可以同时具有高灵活度、高度、高性价比、高可操作性等特点于一身的电源测试系统来适应行业的发展,这样的系统是测试航天电源比较理想的选择方案,在航天电源测试评估领域也有广泛的应用前景。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
测试仪表校正池州-校准单位
如果采用传统的单机测试方式,就存在各种工况转换的衔接过程,难以进行与测试,这样的衔接过程往往是系统容易产生故障的环节。正因如此,就需要一个软硬件结合的电源自动化测试系统来完成对航天电源系统性能的测试。传统的电源测试系统由于通用性低,价格昂贵且难于操作维护,已经不能满足日益发展的航天电源系统的测试需求,需要有一套可以同时具有高灵活度、高度、高性价比、高可操作性等特点于一身的电源测试系统来适应行业的发展,这样的系统是测试航天电源比较理想的选择方案,在航天电源测试评估领域也有广泛的应用前景。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
测试仪表校正池州-校准单位
TEMCELL一般只找方值,使测试结果对手机摆放的位置比较敏感。另外,还有一种测试工具较屏蔽箱,有的设计公司用来对手机天线进行有源测试,这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近,另一方面由于没有足够的吸波材料,外部干扰对天线的测试影响比较大,这样导致测试结果对位置比较敏感,稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变,因此这种测试方法对手机天线的性能没有多少的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质,往往要进行天线的耦合测试。
TEMCELL一般只找方值,使测试结果对手机摆放的位置比较敏感。另外,还有一种测试工具较屏蔽箱,有的设计公司用来对手机天线进行有源测试,这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近,另一方面由于没有足够的吸波材料,外部干扰对天线的测试影响比较大,这样导致测试结果对位置比较敏感,稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变,因此这种测试方法对手机天线的性能没有多少的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质,往往要进行天线的耦合测试。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
测试仪表校正池州-校准单位红外热像仪能对零度以上物体发出的热辐射生成热图像。通过每一个像素的温度测量值,研究人员可以以非接触的方式对某一场景进行观察和测温。由于红外热像仪的数据比热电偶或点温仪要多,而且可以追踪随时间推移所发生的温度变化,所以它们非常适合用于研究和工程设计项目。制冷型与非制冷型红外探测器红外探测器大体可分为两类:一类是热探测器,另一类是量子探测器。热探测器,比如微测辐射热计,会对射入的辐射能产生反应,加热像素,通过电阻的变化来反映出温度的变化。
测试仪表校正池州-校准单位红外热像仪能对零度以上物体发出的热辐射生成热图像。通过每一个像素的温度测量值,研究人员可以以非接触的方式对某一场景进行观察和测温。由于红外热像仪的数据比热电偶或点温仪要多,而且可以追踪随时间推移所发生的温度变化,所以它们非常适合用于研究和工程设计项目。制冷型与非制冷型红外探测器红外探测器大体可分为两类:一类是热探测器,另一类是量子探测器。热探测器,比如微测辐射热计,会对射入的辐射能产生反应,加热像素,通过电阻的变化来反映出温度的变化。
上一篇:杭州K66286材质可检验
下一篇:浙江DIN 2.4610千吨入库